全球领先的压电技术
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通过DLC成膜的等离子控制技术与无机晶体控制技术相结合,我们成功地将被认为极难合成的压电材料单晶化, 并建立了制造方法。 单晶技术能够应用在各种半导体加工,同时表现出比现有多晶材料更高的性能。
内容:
单晶薄膜的特性
我们的单晶技术关键,是通过独特的缓冲层为各种压电材料实现单晶化。
缓冲层自身形状的变化,能校正压电薄膜基板和晶格之间的间隙位置,从而形成残余应力最小化的单晶结构。
我们拥有先进的等离子体控制技术,能够在不改变材料成分组合下,根据各项应用进行微调。
我们提供的单晶压电薄膜晶圆(KRYSTAL®Wafer),能广泛应用于各种MEMS装置。
基本结构制造的压电材料薄膜都具有以下特点:
- 矽(Si)底板能够不受压电薄膜厚度的影响,维持连续的单晶结构和表现。
- 拥有“Cube on Cube”结构,晶体结构就像多颗骰子堆叠起来都不会滚动和旋转一様。
- SRO压电薄膜很少出现晶体缺陷,即使在次微米(1微米以下)的厚度下也能做到可靠的表现。 这些特性不仅能应用于众所周知的压电材料PZT,也适用于BTO及其他不同的物料之上。 矽(Si)基板的标准晶向是(100),其他晶向具有以下特征。
- 当Si基板的晶向转换成<(110)或(111)>时,也能够延续上层薄膜以配合材料作最适切的组合。
我们能够提供平台及作出建议,以满足客户理想的组合需求。
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KRYSTAL® Wafer PZT单晶独有特性
与一般的多晶压电薄膜比较,KRYSTAL® Wafer单晶压电薄膜表现出更优越的电气和机械特性。
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KRYSTAL® Wafer PZT薄膜的显著特点:
- 单晶薄膜
- 成膜后能保持初始极化状态
- 高耐热性,回流焊接温度(450°C)下也不会去极化
- 与同様位移的多晶比较,介电常数低于一半以下
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提高电气和机械特性
压电性能方向在单晶化时一致对齐,能提高电能和机械能的转换效率。
与一般多晶薄膜相比,KRYSTAL® Wafer的单晶压电薄膜能令执行器和感测器发挥出更卓越的性能表现。
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提高可靠性
单晶化能改善原子之间的键合以及温度特性,提高薄膜的可靠性。
KRYSTAL® Wafer单晶压电薄膜的寿命大约是多晶PZT薄膜的100倍。
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KRYSTAL® Wafer 单晶成膜原理
我们拥有在客户自家设备上使用KRYSTAL® Wafer,成功实现单晶化的良好表现实绩。